高低溫試驗箱適用工業(yè)品高低溫試驗的可靠性測試，是對電工電子、轎車摩托車、航天航空、船只武器、高等學(xué)校、科研機構(gòu)等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及原材料在高、超低溫交替變化循環(huán)系統(tǒng)轉(zhuǎn)變的狀況下，檢測其各類性能參數(shù)。
 

 

　　高低溫試驗箱的溫度校正有下列方式，在具體工作上必須依據(jù)具體情況挑選適合的方式，下邊我企業(yè)便對這幾類校正方式的優(yōu)點和缺點開展詳細(xì)介紹。

 

　　一、在無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：此方式的優(yōu)勢是：高低溫試驗箱的全部工作中地區(qū)都獲得了校正、檢測試品越來越更時不用再次校正、可以對高低溫試驗箱的適用范圍作出合理的評定。而它的關(guān)鍵缺陷是：不可以評定檢測試品對環(huán)境試驗箱所導(dǎo)致的危害。

 

　　二、在有負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：此方式的優(yōu)勢是：可以較為精確地評定檢測試品對環(huán)境試驗箱特性的危害、便于獲得檢測試品核心部件或位置的自然環(huán)境實驗的詳細(xì)資料。而它的關(guān)鍵缺陷是：當(dāng)拆換檢測試品時，必須再次校正。

 

　　三、在應(yīng)用全過程中的即時精確測量：此方式不但具備1和2上述的方式具備的優(yōu)勢，并且可以獲得檢測試品在自然環(huán)境實驗全過程中全方位的環(huán)境參數(shù)，通常在對自然環(huán)境規(guī)定很高的商品實驗時選用。它的關(guān)鍵缺陷是：每一次自然環(huán)境實驗都必須應(yīng)用測量設(shè)備，一般在環(huán)境試驗箱校正時選用無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下的校正方式，文中為了更好地便于評定環(huán)境試驗箱的溫度特性，也選用了此方式開展剖析。